엑스선 회절

엑스선 회절(X‐ray diffraction, XRD) 또는 X선 회절은 결정격자를 통과한 X선의 회절을 나타낸 영상이다.

X선을 결정에 조사하면 브래그 법칙을 만족시킨 방향에만 X선이 회절되어 결정구조를 반영시킨 패턴이 생긴다.

1912년 막스 폰 라우에가 이 현상을 발견하여 X선이 사실은 파장이 짧은 전자기파라는 것을 밝혔다.

거꾸로 이 현상을 이용해 물질의 결정 구조를 조사하는 것이 가능하다. 이러한 X선 회절의 결과를 해석해 결정 내부의 원자가 어떤 배열을 하고 있는가를 밝히는 방법을 'X선 결정구조해석' 또는 'X선 회절법'이라 한다. 이 외에 회절현상을 이용한 결정구조해석의 방법으로 전자회절법, 중성자회절법 등이 있다.

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