주사전자현미경: 두 판 사이의 차이

'''주사전자현미경'''(走査電子顯微鏡)은 [[전자 현미경]]의 한 종류로, 집중적인 [[전자]] 빔으로 주사(走査)하여 표본의 상(象)을 얻는다. 약자로 줄여 '''SEM'''(Scanning Electron Microscope)이라고도 한다. 전자들은 표본의 원자들과 상호반응하여 표본의 표면 [[지형학|지형]]과 구성에 대한 정보를 담고 있으며 검출 가능한 다양한 신호들을 생성한다. 전자 빔은 일반적으로 [[래스터 주사]]의 양식으로 주사하며, 빔의 위치를 검출된 신호와 결합하여 상을 만들어낸다. SEM으로 1 나노미터보다 좋은 분해능을 얻을 수 있다. 표본은 고진공에서도, 저진공에서도, 습기가 있어도, 그리고 넓은 범위의 극저온이나 높은 온도에서도 관찰이 가능하다.