반도체 오류 진단 및 분석: 두 판 사이의 차이

'''반도체 오류 진단 및 분석'''은 자동 완성 기능이 갖추어진 소프트웨어 알고리즘으로서 스캔 기반의 장치들의 오작동이나 고장의 원인이 되는 전기회로를 도선을찾아내는 찾아내어예측 개선한다알고리듬이다. <ref>{{콘퍼런스 인용|last=Crowell| first=G|author2=Press, R.| 제목=Using Scan Based Techniques for Fault Isolation in Logic Devices| booktitle=Microelectronics Failure Analysis | pages= 135}}</ref>

[[소프트웨어]] 기반의 오류 진단은 [[반도체]] 디자이너들이설계자가 반도체 [[도선]]을 발전시키거나개선하거나 수리하는데 사용된다필요한 정보를 얻기 위해 이용된다. 오류 진단은 반도체의 효율이나수율 사양을개선 개선시키는및 오류 목적으로분석에 쓰인다이용된다.

오류 진단 알고리즘에알고리즘은 대입한오류 값은특성을 오류의나타내는 성격을데이타로그를 나타내입력으로 준다받는다. 이 알고리즘은 실패한 전기 도선의회로의 시뮬레이션 모델과 실제 장비의 시뮬레이션 모델을 사용하여 그 오류의 특성을 비교하기 위해 사용된다. 다양한 오류 종류가 이 분석 모델에 적용될 수 있다. 다음은 흔히 적용되는 오류 타입이다.